Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/2067/40760
Campo DCValoreLingua
dc.contributor.authorDi Marco, R.en
dc.contributor.authorRossi, Stefanoen
dc.contributor.authorPatan, F.en
dc.contributor.authorCappa, P.en
dc.date.accessioned2020-10-20T23:05:46Z-
dc.date.available2020-10-20T23:05:46Z-
dc.date.issued2014en
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2067/40760-
dc.titleTechnical quality assessment of an optoelectronic system performance for gait analysis purposeen
dc.typeconferenceObjecten
dc.relation.journalIMEKO joint Symposiumen
dc.relation.conferencenameIMEKO joint Symposiumen
dc.type.miur273en
item.fulltextNo Fulltext-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_18cf-
item.grantfulltextnone-
item.openairetypeconferenceObject-
item.cerifentitytypePublications-
È visualizzato nelle collezioni:D1. Contributo in Atti di convegno
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