Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/2067/33211
Titolo: Evaluation of thin metal film thickness from light attenuation and multi-reflection effects on micro-Raman response
Autori: Camerlingo, C.
Lisitskiy, M. P.
De Stefano, L.
Rea, I.
Delfino, Ines 
Lepore, M.
Rivista: THIN SOLID FILMS 
Data pubblicazione: 2013
URI: http://hdl.handle.net/2067/33211
DOI: 10.1016/j.tsf.2013.04.007
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